688661 科创 和林微纳

公司代码：688661                                              公司简称：和林微纳
      苏州和林微纳科技股份有限公司

            2023 年年度报告


                          重要提示

一、 本公司董事会、监事会及董事、监事、高级管理人员保证年度报告内容的真实性、准确性、
  完整性，不存在虚假记载、误导性陈述或重大遗漏，并承担个别和连带的法律责任。
二、公司上市时未盈利且尚未实现盈利
□是 √否
三、重大风险提示

  公司已在本报告中描述公司面临的风险，敬请查阅本报告第三节“管理层讨论与分析”中
“风险因素”相关内容，请投资者予以关注。
四、公司全体董事出席董事会会议。
五、 天衡会计师事务所（特殊普通合伙）为本公司出具了标准无保留意见的审计报告。
六、 公司负责人骆兴顺、主管会计工作负责人王军委及会计机构负责人（会计主管人员）万俊声
  明：保证年度报告中财务报告的真实、准确、完整。
七、 董事会决议通过的本报告期利润分配预案或公积金转增股本预案

  公司2023年度利润分配及资本公积转增股本方案为：公司拟向全体股东每10股派发现金红利0.8元（含税）。截至2023年12月31日，公司总股本89,874,453股，以此计算合计拟派发现金红利718.99万元（含税）。公司拟以资本公积向全体股东每10股转增3股。截至2023年12月31日，公司总股本89,874,453股，以此计算合计转增26,962,336股，转增后公司总股本将增加至116,836,789股（具体以中国证券登记结算有限责任公司登记为准）。

  如在上述利润分配及资本公积转增股本方案公告披露之日起至实施权益分派股权登记日期间，因可转债转股/回购股份/股权激励授予股份回购注销/重大资产重组股份回购注销等致使公司总股本发生变动的，公司拟维持分配（转增）总额不变，相应调整每股分配（转增）比例。

  上述利润分配及资本公积转增股本方案已经公司第二届董事会第十次会议、第二届监事会第八次会议通过，已由独立董事发表独立意见，该方案需经公司2023年度股东大会审议通过后实施。
八、 是否存在公司治理特殊安排等重要事项
□适用 √不适用
九、 前瞻性陈述的风险声明
√适用 □不适用

  本报告所涉及的公司未来计划、发展战略等前瞻性陈述，不构成公司对投资者的实质承诺，敬请投资者注意投资风险。
十、 是否存在被控股股东及其他关联方非经营性占用资金情况
否

十一、 是否存在违反规定决策程序对外提供担保的情况
否
十二、 是否存在半数以上董事无法保证公司所披露年度报告的真实性、准确性和完整性否
十三、 其他
□适用 √不适用


                            目录


第一节    释义 ...... 4
第二节    公司简介和主要财务指标 ...... 7
第三节    管理层讨论与分析 ......11
第四节    公司治理 ...... 41
第五节    环境、社会责任和其他公司治理 ...... 57
第六节    重要事项 ...... 64
第七节    股份变动及股东情况 ...... 97
第八节    优先股相关情况 ...... 104
第九节    债券相关情况 ...... 104
第十节    财务报告 ...... 105

                  载有公司负责人、主管会计工作负责人、会计机构负责人（会计主管人
                  员）签名并盖章的财务报表

  备查文件目录  载有会计师事务所盖章、注册会计师签名并盖章的审计报告原件

                  载有报告期内在中国证监会指定网站上公开披露过的所有公司文件的正本
                  及公告的原稿


                        第一节  释义

一、 释义
在本报告书中，除非文义另有所指，下列词语具有如下含义：
 常用词语释义

 和林微纳/公司/本公司  指  苏州和林微纳科技股份有限公司

 和林贸易              指  苏州和林微纳科技贸易有限公司,和林微纳全资子公司

 工业园区和林          指  苏州工业园区和林微纳科技有限公司，和林微纳全资子公司

 苏州和阳              指  苏州和阳管理咨询合伙企业（有限合伙）

 永科电子              指  苏州永科电子设备有限公司，和林微纳全资子公司

                            常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，按照制造技术
 半导体                指  可分为集成电路（IC）、分立器件、光电子和传感器，可广泛应
                            用于下游通信、计算机、消费电子、网络技术、汽车及航空航天
                            等产业

                            System on Chip 的简称，即系统级芯片，指在一颗芯片内部集
 SoC                  指  成了功能不同的子模块，组合成适用于目标应用场景的一整套
                            系统。系统级芯片往往集成多种不同的组件，如手机 SoC 集成
                            了通用处理器、硬件编解码单元、基带等

                            无生产线设计公司模式，采用该模式的 IC 设计公司自身不具
 Fabless              指  备晶圆制造和封装生产线，专注于技术和工艺研发，将生产环
                            节全部外包

                            Integrated Circuit，指通过一系列特定的加工工艺，将晶体
 IC                    指  管、二极管等 有源器件和电阻器、电容器等无源原件按一定的
                            电路互联并集成在半导体晶片上，封装在一个外壳内，执行特
                            定功能的电路或系统

 晶圆                  指  在氧化/扩散、光刻、刻蚀、离子注入、薄膜生长、清洗与抛光、
                            金属化 等特定工艺加工过程中的硅片

 晶圆厂                指  通过一系列特定的加工工艺，在硅片上加工制造半导体器件的
                            生产厂商

 芯片                  指  集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后
                            的结果

 芯片制造              指  将通过一系列特定的加工工艺，将半导体硅片加工制造成芯片
                            的过程，分为前道晶圆制造和后道封装测试

                            芯片制造分为前道和后道工艺，前道主要是光刻、刻蚀、清洗、
 前道、后道            指  离子注入、化学机械平坦等；后道主要有打线、Bonder、FCB、
                            BGA 植球、检查、测试等

                            处于前沿的封装形式和技术。目前，带有倒装芯片（FC）结构的
 先进封装              指  封装、 圆片级封装（WLP）、系统级封装（SiP）、2.5D 封装、
                            3D 封装等均被认为属于先进封装范畴

 晶圆级封装            指  Wafer level packaging 将封装尺寸减小至集成电路芯片大小，
                            以及它可以晶圆形式成批加工制作，使封装降低成本

                            Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试，测试对象
                            是针对整片 wafer 中的每一个 Die，目的是确保整片 wafer 中
 CP 测试                指  的每一个 Die 都能基本满足器件的特征或者设计规格书，通常
                            包括电压、电流、时序和功能的验证。可以用来检测 fab 厂制
                            造的工艺水平。

 FT 测试                指  Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对
                            封装好的 chip，CP 测试之后会进行封装，封装之后进行 FT 测


                          试。可以用来检测封装厂的工艺水平。

                          主要应用于芯片的功能测试，使用 PCB 板+芯片搭建一个“模拟”
基板级测试            指  的芯片工作环境，利用芯处片的测试 socket 将芯片的接口都引
                          出，检测芯片的功能，或者在各种严苛环境下看芯片能否正常
                          工作。

良率                  指  被测试电路经过全部测试流程后，测试结果为良品的电路数量
                          占据全部 被测试电路数量的比例

                          High Density Interconnection”即高密度互连技术。HDI 是印
HDI                  指  刷电路板技术的一种，具备提供更高密度的电路互连、容纳更
                          多的电子元器件等特点

                          Micro-Electro Mechanical System，即微机电系统，是微电路
MEMS                  指  和微机械系统按功能要求在芯片上的集成，通过采用半导体加
                          工技术能够将电子机械系统的尺寸缩小到毫米或微米级

                          基板的一种，直接用于搭载芯片，可为芯片提供电连接、保护、
封装基板              指  制成、散热等功效，以实现多引脚化、缩小封装产品体积、改善
                          电性能及散热性或多芯片模块化等目的

                          一种微型金属壳体，通过自身的屏蔽体将电子元器件、电路、组
屏蔽罩                指  合件、电线电缆或整个电子系装保护起来，防止外界的干扰电
                          磁场及热能向壳体内扩散，从而达到屏蔽各种外部电磁及热源
                          的功效

连接器                指  一种常见的电子元器件，由一个或多个零组件装配而成的电子