证券代码：300567 证券简称：精测电子 公告编号：2024-050
武汉精测电子集团股份有限公司 2023 年年度报告摘要
一、重要提示
本年度报告摘要来自年度报告全文，为全面了解本公司的经营成果、财务状况及未来发展规划，投资者应当到证监会指定媒体仔细阅读年度报告全文。
所有董事均已出席了审议本报告的董事会会议。
立信会计师事务所（特殊普通合伙）对本年度公司财务报告的审计意见为：标准的无保留意见。
本报告期会计师事务所变更情况：公司本年度会计师事务所由变更为立信会计师事务所（特殊普通合伙）。
非标准审计意见提示
□适用 不适用
公司上市时未盈利且目前未实现盈利
□适用 不适用
董事会审议的报告期利润分配预案或公积金转增股本预案
适用 □不适用
公司经本次董事会审议通过的利润分配预案为：以未来实施利润分配方案时股权登记日的总股本（剔除公司回购专用证券账户中的股份）为基数，向全体股东每 10股派发现金红利 2元（含税），送红股 0 股（含税），以资本公积金向全体股东每 10股转增 0股。
董事会决议通过的本报告期优先股利润分配预案
□适用 不适用
二、公司基本情况
1、公司简介
股票简称 精测电子 股票代码 300567
股票上市交易所 深圳证券交易所
联系人和联系方式 董事会秘书 证券事务代表
姓名 刘炳华 程敏
办公地址 武汉市东湖新技术开发区流芳园南路 22 号 武汉市东湖新技术开发区流芳园南路 22 号
传真 027-87671179 027-87671179
电话 027-87671179 027-87671179
电子信箱 liubinghua@wuhanjingce.com chengmin@jcdz.cc
2、报告期主要业务或产品简介
（一）主营业务
公司主要从事显示、半导体及新能源检测系统的研发、生产与销售。公司目前在显示领域的主营产品涵盖 LCD、OLED、Mini-LED、Micro-OLED、Micro-LED 等各类显示器件的检测设备，包括电测及调试系统设备、前制程外观形貌AOI设备、自动化装备集成产品、微显示缺陷检测、AR/VR 组件检测及制程设备、AI检测软件与系统、智能和精密光学仪器等；在半导体领域的主营产品分为前道和后道测试设备，包括膜厚量测系统、光学关键尺寸量测系统、电子束缺陷检测系统、半导体硅片应力测量设备、明场光学缺陷检测设备和自动检测设备（ATE）等；在新能源领域的主要产品为锂电池生产及检测设备，主要用于锂电池电芯装配和检测环节等，包括锂电池化成分容系统、切叠一体机、锂电池视觉检测系统和 BMS检测系统等。
平板显示检测是平板显示器件生产各制程中的必备环节，在 LCD 和 OLED 产品等平板显示器件的生产过程中进行外
观形貌、光学性能、电气性能等各种功能检测，主要用以确认生产制程是否完好、分辨平板显示器件良品与否、对每道工序上的不良品进行复判以及对不良品分类并加以解析提升产线良品率。平板显示检测系统行业的发展受下游平板显示产业的新增产线投资及因新技术、新产品不断出现所产生的产线升级投资所驱动，与平板显示产业的发展具有较强的联动性。
公司现有的半导体量测、检测设备主要分为前道和后道测试设备。公司前道检测主要用于晶圆加工环节，目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷，偏向于物理性的检测；后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内，目的是检查芯片的性能是否符合要求，偏向于电性能的检测。
公司新能源领域中锂电池切叠一体机及生产检测系统处于锂电池产业链的中游，系锂电池研发、生产及应用的重要组成部分。锂电池检测系统主要用于锂电池生产、锂电池功能性、安全性及可靠性检测，包括锂电池化成分容、锂电池组充放电检测、BMS 检测、锂电池组 EOL 检测及工况模拟检测等。锂电池切叠一体机主要用于方形锂电池的裁切、叠片、热压成型及品质检测，包含全自动的切叠一体机、激光模切机、CT 检测设备等产品。
主要产品具体如下：
产品类别 产品类型 产品用途 具体产品
信号检测系统可提供多种信号接口并支持通道配
置，通过灵活简易的 UI 控制，为显示模组提供信 LCD 模组信号检测系统、
号、图像、高精度电源，驱动模组在被测环境工 LCD CELL 信号检测系统、
信号检测系统 作，便于快速检查出被测品缺陷。可针对显示面 Touch panel 检测系统、LED
板、显示模组的显示效果和电气参数等进行多功 点灯检测设备等
能检测，适用于显示面板和模组的研发、生产、
信赖性试验等环节的全面测试需求
通过单个或多个高清工业相机、亮色度仪器自动 2.5D CG 素玻璃外观检测系
扫描被测品采集图像，运用系统软件进行图形采 统、中大尺寸 OC API 检测
AOI光学检测系统 集识别等处理，识别待测物缺陷并对缺陷进行分 系统、LCD 在线 AOI 检测系
类分等，修复 Mura 类缺陷。可针对模组、面板、 统、大尺寸 LCD DeMura 设
平板显示检测 背光的光学、图像、外观等进行多功能自动检测 备、宏观检查机、微观检查
设备 和量化评价，适用于被测品的产线测试需求 机等
OLED 调测系统为被测品提供视频信号、微安级 OLED 模组检测系统、OLED
超高精度电源，便于快速检查出待测物缺陷。可 CELL 图形信号检测系统、
针对 OLED CELL、模组、触控效果的光学特性、 OLED 光学检测系统、OLED
OLED 调测系统 电气特性进行多功能检测，整合工业相机及亮色 gamma 调 测 系 统 、 OLED
度仪器，可实现亮色度曲线的校正，显示缺陷自 Mura 补偿系统、OLED 寿命
动检测，灰度补偿等；适用于产品研发、生产、 检测系统、 OLED 光学量化
信赖性试验等完整测试需求 评价系统等
通过单个和多个机械模组、运动单元、控制系统 框胶检查机、膜厚测量机、
平板显示自动化设 以及影像系统实现面板的清洁、吸附、移载、旋 Open cell 线体、PCBI 检查
备 转、精密定位、自动压接、点亮、检测、打标、 机、清洗机、分选机、自动
扫码、量测、老化测试、自动包装、自动堆栈等 包装机、人机协作线等
功能，可用于平板显示生产全制程
半导体量测、 膜厚量测系统 能准确的确定半导体制造工艺中的各种薄膜参数 集成式膜厚量测设备、高性
检测设备 和细微变化（如膜厚、折射率、消光系数等）， 能独立式膜厚量测设备
应用范围包括刻蚀、化学气相沉积、光刻和化学
机械抛光（CMP）等工艺段的测量
可以进行显影后检查（ADI）、刻蚀后检查
（AEI）等多种工艺段的二维或三维样品的线宽、
侧壁角度（SWA）、高度/深度等关键尺寸
光学关键尺寸量测 （CD）特征或整体形貌测量，可测量二维多晶硅 高精度光学关键尺寸量测设
系统 栅极刻蚀（PO）、隔离槽（STI）、隔离层 备（OCD）
（Spacer）、双重曝光（Double Patterning）或三
维 连 接 孔 （ VIA ） 、 鳍 式 场 效 应 晶 体 管
（FinFET）、闪存（NAND）等多种样品
电子束缺陷检测系 可以对光学缺陷检测设备的检测结果进行高分辨 先进的晶圆在线电子束缺陷
统 率复查、分析和分类，满足 28 纳米及更先进集成 复查和分类设备
电路工艺制程的需求
光学缺陷检测系统 高速检测晶圆芯片电路中的 short（短路）、open 明场光学缺陷检测设备
（断路）、凹陷和凸起等典型制造缺陷
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